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参数资料
| 型号： | PM8621-BIAP |
| 厂商： | PMC-SIERRA INC |
| 元件分类： | 数字传输电路 |
| 英文描述： | NSE-8G⑩ Standard Product Data Sheet Preliminary |
| 中文描述： | ATM/SONET/SDH SUPPORT CIRCUIT, PBGA480 |
| 封装： | 35 X 35 MM, 1.47 MM HEIGHT, UBGA-480 |
| 文件页数： | 30/184页 |
| 文件大小： | 1122K |
| 代理商： | PM8621-BIAP |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页当前第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页第117页第118页第119页第120页第121页第122页第123页第124页第125页第126页第127页第128页第129页第130页第131页第132页第133页第134页第135页第136页第137页第138页第139页第140页第141页第142页第143页第144页第145页第146页第147页第148页第149页第150页第151页第152页第153页第154页第155页第156页第157页第158页第159页第160页第161页第162页第163页第164页第165页第166页第167页第168页第169页第170页第171页第172页第173页第174页第175页第176页第177页第178页第179页第180页第181页第182页第183页第184页
NSE-8G Standard Product Data Sheet
Preliminary
Proprietary and Confidential to PMC-Sierra, Inc., and for its Customers’ Internal Use
Document ID: PMC-2010850, Issue 1
29
Pad Name
Type
Pin No.
Function
ALE
Input
AL30
Address Latch Enable.
The address latch enable signal
(ALE) is active high and latches the address bus
(A[11:0]) when it is set low. The internal address latches
are transparent when ALE is set high. ALE allows the
NSE-8G to interface to a multiplexed address/data bus.
ALE has an integral pull up resistor.
INTB
Open Drain
Output
AN30
Interrupt Request Bar
. The active low interrupt enable
signal (INTB) output goes low when an NSE-8G interrupt
source is active and that source is unmasked. INTB
returns high when the interrupt is acknowledged via an
appropriate register access. INTB is an open drain
output.
JTAG Port (5 Balls)
TCK
Input
B14
Test Clock.
The JTAG test clock signal (TCK) provides
timing for test operations that are carried out using the
IEEE P1149.1 test access port.
TMS
Input
B13
Test Mode Select.
The JTAG test mode select signal
(TMS) controls the test operations that are carried out
using the IEEE P1149.1 test access port. TMS is
sampled on the rising edge of TCK. TMS has an integral
pull-up resistor.
TDI
Input
C12
Test Data Input.
The JTAG test data input signal (TDI)
carries test data into the NSE-8G via the IEEE P1149.1
test access port. TDI is sampled on the rising edge of
TCK. TDI has an integral pull-up resistor.
TDO
Tri-state
C11
Test Data Output.
TheJTAG test data output signal
(TDO) carries test data out of the NSE-8G via the IEEE
P1149.1 test access port. TDO is updated on the falling
edge of TCK. TDO is a tri-state output which is inactive
except when scanning of data is in progress.
TRSTB
Input
D14
Test Reset Bar.
The active low JTAG test reset signal
(TRSTB) provides an asynchronous NSE-8G test access
port reset via the IEEE P1149.1 test access port. TRSTB
is a Schmitt triggered input with an integral pull-up
resistor.
Note that when TRSTB is not being used, it must be
connected to the RSTB input.
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