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参数资料
| 型号： | ADUC7033BSTZ-88-RL |
| 厂商： | Analog Devices Inc |
| 文件页数： | 8/140页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC BATT SENSOR PREC 48LQFP |
| 标准包装： | 2,000 |
| 功能： | 电池监控器 |
| 电源电压： | 3.5 V ~ 18 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 115°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 48-LQFP |
| 供应商设备封装： | 48-LQFP（7x7） |
| 包装： | 带卷 (TR) |
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ADuC7033
Parameter
Test Conditions/Comments
Min
Typ
Max
Unit
D2
Duty Cycle 2,
0.581
TH REC(MIN) = 0.284 × V BAT ,
TH DOM(MIN) = 0.422 × V BAT ,
V SUP = 7.0 V . . . 18 V, t BIT = 50 μs,
D2 = t BUS_REC(MAX) /(2 × t BIT )
BSD INPUT/OUTPUT 30
Baud Rate
1164
1200
1236
Bits/sec
Input Leakage Current
V OL , Output Low Voltage
V OH , Output High Voltage
Input (high) = VDD or input (low) = IO_VSS
?50
0.8 V DD
+50
1.2
V DD
μA
V
V
I o(sc) , Short-Circuit Output Current
V BSD = V DD = 12 V
50
80
120
mA
V INL , Input Low Voltage
V INH , Input High Voltage
WAKE
R L = 300 Ω, C BUS = 91 nF, R LIMIT = 39 Ω
0.7 V DD
1.8
V
V
Input Leakage Current
Supply voltage range at which the WU pin is functional
Input (high) = VDD
Input (low) = IO_VSS
7
0.4
?50
18
2.1
+50
V
mA
μA
V OH31
V OL31
V IH
V IL
Output high level
Output low level
Input high level
Input low level
5
4.6
2
1.2
V
V
V
V
Monoflop Timeout
I o(sc) , Short-Circuit Output Current
Timeout period
0.6
65
1.3
100
2
sec
mA
SERIAL TEST INTERFACE
R L = 500 Ω, C BUS = 2.4 nF, R LIMIT = 39 Ω
Baud Rate
40
kbps
Input Leakage Current
V DD
Input (high) = VDD or input (low) = IO_VSS
Supply voltage range for which STI is functional
?50
7
+70
18
μA
V
V OH
V OL
V IH
V IL
Output high level
Output low level
Input high level
Input low level
0.6
0.6
0.4
0.4
V DD
V DD
V DD
V DD
PACKAGE THERMAL SPECIFICATIONS
θ JA , Thermal Impedance 33
48-lead LFCSP, stacked die
48-lead LQFP, stacked die
140
150
45
75
160
°C
°C/W
°C/W
POWER REQUIREMENTS
Power Supply Voltages
VDD (Battery Supply)
3.5
18
V
REG_DVDD, REG_AVDD 34
2.5
2.6
2.7
V
Power Consumption
I DD (MCU Normal Mode) 35
I DD (MCU Powered Down) 1
MCU clock rate = 10.24 MHz, ADC off
MCU clock rate = 20.48 MHz, ADC off
ADC low power mode, measured over the range of
10
20
300
20
400
mA
mA
μA
T A = ?10°C to +40°C, continuous ADC conversion
ADC low power mode, measured over the range of
300
500
μA
T A = ?40°C to +85°C, continuous ADC conversion
ADC low power plus mode, measured over an
520
700
μA
ambient temperature range of T A = ?10°C to +40°C,
continuous ADC conversion
Average current, measured with wake and watchdog
120
300
μA
timer clocked from the low power oscillator, T A =
?40°C to +85°C
I DD (MCU Powered Down)
Average current, measured with wake and watchdog
120
175
μA
timer clocked from low power oscillator over a range
of T A = ?10°C to +40°C
I DD (Current ADC)
I DD (Voltage/Temperature ADC)
I DD (Precision Oscillator)
Rev. B | Page 8 of 140
1.7
0.5
400
mA
mA
μA
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